ナノレベルの画像(※)やピンポイントの組成分析をご提供します。
製品不良の原因究明
異物や付着物の発見、組成分析等、生産工程の品質管理にご利用いただけます。
○メッキ不良(腐食・変色・膨れ・剥がれ等)調査
○研磨状態の観察
○破断面解析(破面解析)
○異物・付着物の成分調査
○微細構造の観察
○微小部分の寸法測定
○液中の浮遊物調査 他
設備の保守管理
生産設備、排水処理設備などにおける保守管理にご利用いただけます。
○研磨粉・スラリー等の粒度分布
○イオン交換樹脂・活性炭等の状態確認
○破断面解析(破面解析)
○異物・付着物の成分調査
○ライン上で異物混入箇所の特定
○排水の着色・懸濁原因の調査 他
※検査対象の試料、条件等により、ご提供する画像の拡大率は異なります。
走査電子顕微鏡を用いて対象サンプルを極限まで拡大、直接画像による目視判定を行います。発見した異物等はX線分析装置によりピンポイントで組成を分析し成分を特定します。元素分布がひと目で確認できるよう色分けした画像を作成することもでき、製品の品質管理にご利用いただけます。
■元素分布 ■成分分析
走査電子顕微鏡
・二次電子像・反射電子像対応
特性の異なる観察条件を使い分けることで、サンプル表面に関しての様々な情報を同一視野から得ることができます。
・EDS(エネルギー分散型蛍光X線分析)搭載
ホウ素からウランまでの多くの元素の点分析(ピンポイント)・面分析(元素分析)が可能です。
・低真空モード搭載
従来の高真空下では前処理無しには観察・元素分析が困難であったプラスチック等の非導電性物もそのままの状態で対応することが可能です。
※直径10cm、高さ5cm程度のサイズまで、そのまま観察・元素分析ができます。
※基本的に非破壊分析なので、観察後に他の分析に転用することも可能です。
※測長機能も搭載されており、粒子径等を測定することが可能です。
※食品、有害物質、危険物、病原菌などの画像診断はいたしておりません。
画像診断サービスのお問い合わせは、
弊社営業担当又は下記までお気軽にどうぞ。
環境検査計測事業部 営業部
026-284-5114
kensa@miyama.net